[특허]Voltage detecting device

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Voltage detecting device 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01R-015/07 H01P-003/08
출원번호	US-0201173 (1988-06-02)
우선권정보	JP-0144983 (1987-06-10)
발명자 / 주소	Takahashi Hironori (Shizuoka JPX) Tsuchiya Yutaka (Shizuoka JPX)
출원인 / 주소	Hamamatsu Photonics K.K. (Shizuoka JPX 03)
인용정보	피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 4

초록 ▼

There is provided a voltage detecting device using an electro-optical material which has its refractive index changed by a voltage provided on an object under test. The voltage detecting device consists of a strip line formed on the upper surface of the electro-optical material and an electrode formed on the bottom surface of the electro-optical material. One or both of the strip line and electrode may be formed of transparent conductive materials. In operation, a light beam is passed either from the top or the bottom of the device through the electro-optical material and the change in the polarization of the light is measured. That change is related to the voltage level of the voltage signal passing through the strip line formed on the material.

대표청구항 ▼

A voltage detecting device using an electro-optical material whose refractive index is changed by a voltage provided by a predetermined part of an object under measurement, the device comprising: a strip line having a longitudinal axis and formed on the upper surface of said electro-optical material for allowing a pulse of said voltage to advance as a progressive wave at a predetermined speed; and an electrode provided on the lower surface of said electro-optical material; wherein at least one of said strip line and said electrode made of transparent conductive material so that a linearly polarized light beam is allowed to enter said electro-optical material through said transparent one of said strip line and electrode and to emerge from said electro-optical material through said transparent one of said strip line and electrode; and a linearly polarized light beam entering said electro-optical material at an incident angle yy

이 특허에 인용된 특허 (4)

Burns Daniel J. (Rome NY), Apparatus and method for integrated circuit test analysis.
상세보기
Valdmanis Janis A. (Columbus IN) Mourou Gerard (Rochester NY), Measurement of electrical signals with picosecond resolution.
상세보기
Schmid Ralf (Rosenfeld DEX) Otto Johann (Bad Toelz DEX) Bernklau Daniela (Riemerling DEX) Knapek Erwin (Unterhaching DEX), Method and apparatus for localizing weak points within an electrical circuit.
상세보기
Burns Daniel J. (Rome NY) Sethares James C. (Burlington MA) Sweet Gerald G. (Rome NY), Method for testing and analyzing surface acoustic wave interdigital transducers.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

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특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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