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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0263232 (1988-10-27) |
우선권정보 | IE-0002886 (1987-10-28); IE-0000713 (1988-03-11) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 82 인용 특허 : 8 |
An instrument (1) for controlling the temperature of electronic components (20) under test creates a testing environment in an enclosure within which a component contacts directly the active face of a set of back-to-back Peltier cells (50). Heating and cooling of the component (20) under test is rea
A temperature control instrument for an electronic component under test comprising: a body; a testing enclosure in said body for the component; a socket means mounted within said testing enclosure for the reception of the component; a thermoelectric device for heating or cooling said enclosure, said
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