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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0494403 (1990-03-16) |
우선권정보 | DE-3909143 (1989-03-21) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 0 |
A technique for examining surface structures which differ in respect of refractive index and/or height modulation of the surface comprises introducing these surface structures into a plasmon surface polariton field and scanning them by means of surface plasmon microscopy.
A process for examining surface structures which differ in respect of refractive index and/or height modulation of the surface, which comprises introducing these surface structures into a plasmon surface polariton field and scanning them by surface plasmon microscopy.
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