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특허 상세정보

Confocal laser scanning transmission microscope

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G02B-026/10   
미국특허분류(USC) 350/006.5; 350/006.91; 350/102; 350/507; 356/445; 250/224
출원번호 US-0538526 (1990-06-15)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
대리인 / 주소
    Cushman, Darby & Cushman
인용정보 피인용 횟수 : 37  인용 특허 : 3
초록

This invention relates to a confocal laser scanning transmission microscope including a deflecting element for deflecting a light beam at a set scanning frequency in a main scanning direction and an auxiliary scanning direction perpendicular to the main scanning direction to irradiate the light spot to a specimen, and the microscope further comprises an infinity compensating objective lens for collecting a transmitted light through the specimen to form into a parallel beam and a cube-corner-reflector disposed on the opposite side of the specimen across t...

대표
청구항

1. A confocal laser scanning transmission microscope including a deflecting element for deflecting a light beam at a set scanning frequency in a main scanning direction and an auxiliary scanning direction perpendicular to the main scanning direction to irradiate the light spot to a specimen, the microscope comprising: an infinity compensating objective lens for collecting a light beam transmitted through the specimen to form into a parallel beam; and a cube-corner-reflector disposed on the opposite side of the specimen across the infinity compensating...

이 특허를 인용한 특허 피인용횟수: 37

  1. Sanii, Babak; Burgess, James R.. Anamorphic recording method and apparatus. USP2010057719729.
  2. Takahashi Tomoichi,JPX ; Tateishi Kazuyoshi,JPX ; Watabe Akinori,JPX. Apparatus for extracting pattern features. USP2000056057967.
  3. Takahashi Tomoichi,JPX ; Tateishi Kazuyoshi,JPX ; Watabe Akinori,JPX. Apparatus for extracting pattern features. USP1999025870490.
  4. Thomas, Sure. Confocal microscope. USP2005076917468.
  5. Mizuno,Rogerio Jun. Confocal probe. USP2006127154083.
  6. Lanni Frederick ; Taylor D. Lansing ; Bailey Brent. Field synthesis and optical subsectioning for standing wave microscopy. USP2000046055097.
  7. Cobb Joshua Monroe ; Florence ; Jr. Robert Francis ; Topolovec Franz X. ; Ziemins Uldis Artis. Illumination/viewing system for features in transparent materials. USP1999075926311.
  8. Tertitski, Leonid M.; Kuttannair, Krishna Kumar; Hunter, Aaron Muir; Moffatt, Stephen. Laser beam positioning system. USP2014048692151.
  9. Sukhman, Yefim P.; Noto, Stefano J.; Kaufman, Cheryl. Laser beam positioning systems for material processing and methods for using such systems. USP2012108294062.
  10. Kusunose Haruhiko,JPX. Laser microscope and a pattern inspection apparatus using such laser microscope. USP2000036043932.
  11. Kusunose Haruhiko,JPX. Laser microscope and a pattern inspection apparatus using such laser microscope. USP2001026195202.
  12. Krause Andrew W. ; Liang Minhua ; Stehr Robert L.. Light modulated confocal optical instruments and method. USP1999075923466.
  13. DiFrancesco, David; Burgess, James. Method and apparatus for beam deflection using multiple beam scanning galvanometers. USP2003096628442.
  14. Worster Bruce W. ; Lee Ken K.. Method for characterizing defects on semiconductor wafers. USP2001096288782.
  15. Worster, Bruce W.; Lee, Ken K.. Method for characterizing defects on semiconductor wafers. USP2003126661515.
  16. Worster,Bruce W.; Lee,Ken K.. Method for characterizing defects on semiconductor wafers. USP2006127154605.
  17. Worster,Bruce W.; Lee,Ken K.. Method for characterizing defects on semiconductor wafers. USP2008067384806.
  18. Ooki, Hiroshi; Kadomatsu, Yuji; Ogino, Katsumi. Microscope. USP2003066583928.
  19. Mueller, Gerhard J.; Wolleschensky, Ralf. Microscope for reflected-light and transmitted-light microscopy. USP2005036867915.
  20. Mueller,Gerhard J.; Wolleschensky,Ralf. Microscope for reflected-light and transmitted-light microscopy. USP2006077081994.
  21. Fleming, Patrick R.; DeVoe, Robert J.; Leatherdale, Catherine A.; Ballen, Todd A.; Florczak, Jeffrey M.. Multidirectional photoreactive absorption method. USP2010097790353.
  22. Fleming,Patrick R.; DeVoe,Robert J.; Leatherdale,Catherine A.; Ballen,Todd A.; Florczak,Jeffrey M.. Multipass multiphoton absorption method and apparatus. USP2007017166409.
  23. DeVoe, Robert J.; Leatherdale, Catherine A.; Florczak, Jeffrey M.; Fleming, Patrick R.; Potts, John E.. Multiphoton curing to provide encapsulated optical elements. USP2009107601484.
  24. DeVoe, Robert J.; Leatherdale, Catherine A.; Florczak, Jeffrey M.; Fleming, Patrick R.; Potts, John E.. Multiphoton curing to provide encapsulated optical elements. USP2013098530118.
  25. Kimura, Shigeharu. Optical device for transmission-type scanning by moving scanning beam without moving observation sample. USP2016039297980.
  26. Otsuki Shinya,JPX ; Tanaami Takeo,JPX. Optical microscope. USP2001026185035.
  27. Gugel,Hilmar. Phase filter. USP2008047355789.
  28. White, John G.. Photon-sorting spectroscopic microscope system. USP2004026687000.
  29. Bashkansky Mark ; Duncan Michael ; Reintjes John. Rapid, high-resolution scanning of flat and curved regions for gated optical imaging. USP2000036034804.
  30. Han Ke. Ring dilation and erosion techniques for digital image processing. USP2000116148114.
  31. Boettner Matthew C. ; Ouderkirk Steven J.. Scanning confocal microscope with oscillating objective lens. USP1999035880465.
  32. Cloutier, Sylvain G.. Scanning optical microscope with long working distance objective. USP2010107817275.
  33. Nakata Naotaro,JPX ; Yoshida Akihisa,JPX. Semiconductor laser and optical system having a collimator lens. USP2001116320689.
  34. Nakata, Naotaro; Yoshida, Akihisa. Semiconductor laser and optical system having a collimator lens. USP2003076597486.
  35. White John G. ; Wokosin David L.. Signal enhancement for fluorescence microscopy. USP2001016169289.
  36. Krause Andrew W. (Sparks MD). Spatially light modulated confocal microscope and method. USP1996125587832.
  37. Lee, Ken K.. Surface extraction from a three-dimensional data set. USP199605H001530.