$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Lattice production line and method of operating such a line 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B65G-037/00
출원번호 US-0440047 (1989-11-21)
발명자 / 주소
  • Carter
  • Jr. Donald W. (32B Winthrop Ct. Wappingers Falls NY 12590)
출원인 / 주소
  • Carter, Jr.
  • Donald W. (Wappingers Falls NY 04)
인용정보 피인용 횟수 : 16  인용 특허 : 0

초록

A lattice production line includes a plurality of work stations, each connected to adjacent work stations by more than two conveyor belts. Each work station includes a manufacturing robot, an outer turntable with workpiece storage, and an inner turntable aligned with the robot. A program is provided

대표청구항

A production line including a plurality of work stations for processing a plurality of workpieces, the production line comprising: a first turntable means at each work station, the turntable having a central area and a plurality of radial storage sites leading to the central area, wherein workpieces

이 특허를 인용한 특허 (16)

  1. Dorner Frank,ATX, Apparatus for personalizing identification cards.
  2. Kaarakainen, Keijo; Korhonen, Juha; Makela , Ville, Arrangement and method for handling test tubes in a laboratory.
  3. Horn, George, Conveyorized storage and transportation system.
  4. Horn, George, Conveyorized storage and transportation system.
  5. Wehrung Brian ; Holden Clifford, Distributed control system architecture and method for a material transport system.
  6. Wehrung, Brian; Holden, Clifford, Distributed control system architecture and method for a material transport system.
  7. Dorough,Michael J.; Gravelle,Robert M.; Velichko,Sergey A., Dynamic creation and modification of wafer test maps during wafer testing.
  8. Dorough,Michael J.; Blunn,Robert G.; Velichko,Sergey A., Dynamically adaptable semiconductor parametric testing.
  9. Dorough,Michael J.; Blunn,Robert G.; Velichko,Sergey A., Dynamically adaptable semiconductor parametric testing.
  10. Rohm,Rainer; Mison,Peter, Facility for fitting component carriers with electric components.
  11. Velichko,Sergey A.; Dorough,Michael J.; Blunn,Robert G., Intelligent measurement modular semiconductor parametric test system.
  12. Jäger, Helmut F., Linked manufacturing system for processing parts.
  13. Schacher, Gottlieb; Jaeggi, Beat; Ferihumer, Harald; Imfeld, Patrik, Method and device for transferring sample tubes between a laboratory automation system and a sample archiving system.
  14. Van Essen Roelof M. (Eindhoven NLX), Sorting device with a field of transport units.
  15. Horn, George W.; Pyke, Adrian L.; Lebo, William T., System and method of improving throughput and vehicle utilization of monorail factory transport systems.
  16. Hutchison, Herbert L.; White, Jr., Robert, Turret loading device for extrusion line.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로