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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0467916 (1990-01-22) |
우선권정보 | AU-0002378 (1989-01-23) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 48 인용 특허 : 0 |
An extensometer for measuring dimensional change comprises a pair of adjacent conductors (10) helically wound to form a bifilar one layer coil so as to have substantial elastic deformation. The coil is embedded in dielectric material (13) capable of similar elastic deformation whereby the extensomet
An extensometer for measuring dimensional change, said extensometer comprising two or more adjacent electrical conductors selected and configured to allow relative positioning changes thereof to cause a change in electrical interaction between said conductors, wherein said conductors are thin, pliab
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