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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0520988 (1990-05-07) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 28 인용 특허 : 0 |
A method of depositing high quality thin film at a high rate of deposition through the formation of a high flux of activated precursor species of a precursor deposition gas by employing a substantial pressure differential between the pressure adjacent the aperture in a conduit from which said precur
A method of depositing a high quality thin film at a relatively high rate of deposition, said method comprising the steps of: providing an enclosure; maintaining the interior of said enclosure at a subatmospheric background pressure; introducing a precursor deposition gas into the interior of said e
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