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Hydrogen peroxide in basic solution to clean polycrystalline silicon after phosphorous diffusion 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-021/302
출원번호 US-0701702 (1991-05-17)
발명자 / 주소
  • Liu Wei-Jyh (Taipei TWX) Huang Chih-Kung (Taipei TWX) Chen Chad-Yang (Taipei TWX)
출원인 / 주소
  • United Microelectronics Corporation (Hsinchu TWX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 0

초록

The method for providing a cleaned doped polycrystalline silicon surface involves providing a polycrystalline silicon body. The body is uniformly doped with a phosphorous impurity from a phosphorous vapor source, such as phosphorous pentoxide. The silicon oxide surface layer is removed from the dope

대표청구항

Method for forming a high yielding anisotropically patterned thermally doped polycrystalline silicon surface comprising: providing a polycrystalline silicon body; doping said body by a thermal diffusion process uniformly with a phosphorous impurity from a phosphorous pentoxide vapor source; wherein

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Krishna G. Sachdev ; John T. Butler ; Michael E. Cropp ; Donald W. DiAngelo ; John F. Harmuth ; James N. Humenik ; John U. Knickerbocker ; Daniel S. Mackin ; Glenn A. Pomerantz ; David E. Sp, Aqueous quaternary ammonium hydroxide as a screening mask cleaner.
  2. Sachdev Krishna G. ; Butler John T. ; Cropp Michael E. ; DiAngelo Donald W. ; Harmuth John F. ; Humenik James N. ; Knickerbocker John U. ; Mackin Daniel S. ; Pomerantz Glenn A. ; Speed David E. ; Sul, Aqueous quaternary ammonium hydroxide as a screening mask cleaner.
  3. Grant Donald C. (Excelsior MN), Point-of-use recycling of wafer cleaning substances.
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