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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0877969 (1992-04-30) |
우선권정보 | JP-0130635 (1991-05-03) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 15 인용 특허 : 0 |
A fluorescent X-ray analyzer having a source of X-rays and a detector for measuring fluorescent X-rays utilizes a sample cell having an inner and outer cell frame that captures an X-ray transmissive member. The inner cell frame has a lower surface co-planar with a sample measuring surface defined by
In a fluorescent X-ray analyzer having means for providing X-rays and means for detecting fluorescent X-rays emitted from an irradiated sample, the improvement comprising: a sample cell having an inner and outer cell frame with central apertures and a first X-ray transmissive member extending betwee
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