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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0858388 (1992-03-25) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 0 |
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In a method of analyzing a gas sample for trace impurity concentration by atmospheric pressure ionization mass spectroscopy, the improvement comprising: removing moisture without removing the trace impurity from the gas sample before analyzing the gas sample by passing the gas sample through a bed o
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