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Portable edge crack detector for detecting size and shape of a crack and a portable edge detector 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/89
  • G01N-021/86
출원번호 US-0886053 (1992-05-20)
발명자 / 주소
  • Nguyen Donald D. (Lawrenceville NJ)
출원인 / 주소
  • Union Camp Corporation (Princeton NJ 02)
인용정보 피인용 횟수 : 10  인용 특허 : 0

초록

A detector for detecting edge cracks in the web in a papermaking machine includes a plurality of light sources for directing light at the web and a plurality of light sensors for receiving the light through the cracks for generating a plurality of signals indicative of the dimensions and shape of th

대표청구항

A detector for detecting cracks on an edge of a continuous moving web, each crack having a width in a moving direction of said moving web and a length in a direction crosswise to said moving direction, said detector comprising: light source means for directing a plurality of beams of light toward sa

이 특허를 인용한 특허 (10)

  1. Burchardt, Claus; Grove-Nielsen, Erik; Kristensen, Jens Jørgen Østergaard; Stiesdal, Henrik, Crack detection system.
  2. Broek David ; Swinehart Dirk Everett ; Connolly Kevin Paul, Method and system for monitoring web defects along a moving paper web.
  3. De Coi,Beat, Method for the contactless measurement of an object.
  4. Yoshikazu Tatsuduki JP, Microfilm search device.
  5. Wu Jong-Fu,TWX ; Cheng Kun-Lin,TWX ; Lin Feng Biau,TWX ; Kuo Li-Jen,TWX ; Wang Li-Jen,TWX ; Wang Yu-Cheng,TWX ; Wang Cheng-Chung,TWX, Palm-top fabric leading edge detector.
  6. Jespersen, Gunnar, Sensing system for detecting whether one bill, or more than one bill, is present at a sensing station in an ATM.
  7. Medberry, John Bernard; Steketee, Edward; Adams, James D, Sub-micron accuracy edge detector.
  8. Steketee, Edward; Medberry, John Bernard; Guggenheimer, Benno, Sub-micron accuracy edge detector.
  9. Zimdars,David A.; Stuk,Greg; Williamson,Steven L., Terahertz imaging system for examining articles.
  10. Schwitzky Volkmar Rolf,DEX, Web or sheet edge position measurement process and device.
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