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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0189693 (1994-02-01) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 20 인용 특허 : 0 |
A spring biased test probe for testing electrical printed circuit boards includes an elongated tubular barrel having an open end, and a compression spring within a spring seating end of the barrel, opposite from its open end. A plunger inserted in the barrel reciprocates during testing, sliding with
A spring biased test probe for testing printed circuit boards, comprising: a elongated tubular barrel having an open end and a spring seating end, a compression spring within the spring seating end of the barrel opposite from its open end, a plunger inserted in the barrel for reciprocating within th
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