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Method for automatic isolation of functional blocks within integrated circuits 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/28
출원번호 US-0893629 (1992-06-05)
발명자 / 주소
  • Bell Martin J. (Santa Clara CA) Samad Muhammad A. (San Jose CA)
출원인 / 주소
  • VLSI Technology, Inc. (San Jose CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 23  인용 특허 : 0

초록

A system for generating configurations for isolation circuits that can be designed into ASIC chips such that the isolation circuits are transparent during normal operation of the host chip but allow the embedded functional blocks to be readily isolated and accessed for testing via the host chip\s pa

대표청구항

A method of sequentially testing a plurality of functional blocks having data ports within an integrated circuit having external circuit connectors using isolation circuits that are substantially transparent during normal operation of the integrated circuit, comprising the steps of: a) assigning des

이 특허를 인용한 특허 (23)

  1. Nai-Shung Chang TW, Debugging device for a system controller chip to correctly lead its signals to IC leads.
  2. Kadowaki Yukio,JPX, Digital signal processing device.
  3. Biewenga, Alexander Sebastian; Van De Logt, Leon Albertus; De Jong, Franciscus Gerardus Maria; Lousberg, Guillaume Elisabeth Andreas, Electronic circuit and method for testing.
  4. Baxter William F. ; Gelinas Robert G. ; Guyer James M. ; Huck Dan R. ; Hunt Michael F. ; Keating David L. ; Kimmell Jeff S. ; Roux Phil J. ; Truebenbach Liz M. ; Valentine Rob P. ; Weiler Pat J. ; Co, High availability computer system and methods related thereto.
  5. Bauer Regine,DEX ; Krause Gunnar,DEX, Integrated circuit with two operating states.
  6. Clyde Musgrave ; James L. Cambier, Iris imaging telephone security module and method.
  7. Clyde Musgrave ; James L. Cambier, Iris imaging telephone security module and method.
  8. Walther Ronald Gene, Isolated scan paths.
  9. Grupp, Richard J.; Ockunzzi, Kelly A.; Taylor, Mark R., Mechanism to provide test access to third-party macro circuits embedded in an ASIC (application-specific integrated circuit).
  10. Grupp,Richard J.; Ockunzzi,Kelly A.; Taylor,Mark R., Mechanism to provide test access to third-party macro circuits embedded in an ASIC (application-specific integrated circuit).
  11. Burger, Michel C., Method and apparatus for third party control of a device.
  12. Burger, Michel C., Method and apparatus for third party control of a device.
  13. Hendricks Matthew C. (Palo Alto CA) Allen Ernest (Hillsboro OR), Method and apparatus of testing an integrated circuit device.
  14. Porterfield, A. Kent, Method and system for partial-scan testing of integrated circuits.
  15. Porterfield, A. Kent, Method and system for partial-scan testing of integrated circuits.
  16. Porterfield,A. Kent, Method and system for partial-scan testing of integrated circuits.
  17. Cambier, James L.; Siedlarz, John E., Portable authentication device and method using iris patterns.
  18. Deb, Biswa M.; Gupta, Rajat, Reducing tester channels for high pinout integrated circuits.
  19. McLaurin,Teresa Louise, Resetting latch circuits within a functional circuit and a test wrapper circuit.
  20. Clyde Musgrave ; James L. Cambier, System and method of animal identification and animal transaction authorization using iris patterns.
  21. Porterfield, A. Kent, System for partial scan testing of integrated circuits.
  22. Stoll, Chris N.; Nappi, Chris P.; Redford, George R.; Vogler, Jayson D.; Waheed, Khurram, Systems and methods for concurrently testing master and slave devices in a system on a chip.
  23. Cherichetti Cory Ansel ; Colyer Peter Stewart ; Stauffer David Robert, Test mode matrix circuit for an embedded microprocessor core.
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