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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0900641 (1992-06-18) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 10 인용 특허 : 0 |
Test connectors connect a circuit tester to an electronic device to be tested. The test vector matrix is divided into segments, each segment including one or more columns of the matrix. The unique vector segments within each matrix segment are stored in RAMs, one RAM for each test connector. A drive
An electronic circuit tester comprising: a plurality of conductors for providing an electrical connection to an electronic device to be tested; a plurality of vector storage units, each unit storing one or more test vector signals, each signal corresponding to at least a portion of a test vector; a
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