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Sampler for molten metal 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-001/12
출원번호 US-0192469 (1994-02-07)
우선권정보 DE-4303687 (1993-02-09)
발명자 / 주소
  • Baerts Christiaan (Beringen-Paal BEX)
출원인 / 주소
  • Heraeus Electro-Nite International, N.V. (Antwerp BEX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 0

초록

A sampler for molten metal has a carrier body, in which a sample chamber and a prechamber, connected to the latter in a sealed manner via an inflow opening, are arranged one behind the other along the axis of the carrier body, the prechamber having an inlet duct passing through the carrier body. In

대표청구항

An immersion sampler useful for sampling molten metal comprising a hollow carrier body (1) having a longitudinal axis and an immersion end, a sample chamber (6) and a prechamber (10) arranged in the carrier body one behind the other along the axis of the carrier body, a molten metal inflow opening (

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Donnelly Timothy (Wilmington DE) Kaufman Edwin E. (Ambler PA), Apparatus for obtaining sample coupon for metallographic evaluation.
  2. Neyens, Guido Jacobus; Bortels, Eric B.; Beyens, Dries, Device for measuring parameters or for taking samples in molten iron or steel.
  3. Levy Ehud (5933 Peachtree Industrial Blvd. Building B Norcross GA 30092), Filter for inverted bottle type water dispenser.
  4. Beyens, Dries, Measuring probe for measurements in molten metal or slag.
  5. Dams, Francis; Song, Lihuan; Knevels, Johan; Broekmans, Gerrit, Method and apparatus for analyzing samples of metal melts.
  6. Bates Calvin, Method and apparatus for testing material utilizing differential temperature measurements.
  7. Song, Lihuan; Broekmans, Gerrit; Neyens, Guido Jacobus; Beyens, Dries, Sampler for taking samples from melts having a melting point higher than 600 ° C. and method for taking samples.
  8. Cuypers, Jan; Indeherberge, Valère, Sensor arrangement for the measuring of parameters in melted material.
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