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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0094415 (1993-07-19) |
우선권정보 | JP-0221951 (1992-07-28) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 0 |
To enable the measurement of the absolute voltage of the wiring under test with no cross-talk and without depending on the gap interval between the probe tip and-the wiring under test. [Construction of the Invention] The voltage of the conductive films 22 to 24 are controlled by the feedback circuit
A non-contact type voltage measuring apparatus, comprising: a light source for generating a detection light; a non-contact type probe comprising an electrooptic material having an irradiation surface for an external electric field and incident and emitting surfaces for said detection light, wherein
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