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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0249010 (1994-05-25) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 6 인용 특허 : 0 |
Apparatus and process for gauging and controlling extruded profiled elements, particularly extruded profiled elements made of synthetic material. The apparatus includes at least one control and correction gauge arrangeable downstream of an extrusion die along the extrusion direction and in which the
Apparatus for gauging and controlling extruded profiled elements, particularly for extruded profiled elements made of synthetic material, comprising at least one cooling gauge arranged downstream of an extrusion die and at least one control and correction gauge arrangeable downstream of said at leas
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