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연합인증

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Use of IR (thermal) imaging for determining cell diagnostics 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-005/00
  • G01N-025/72
  • H01M-010/48
출원번호 US-0178943 (1994-01-07)
발명자 / 주소
  • Moulton Russell D. (6316 Felder Dr. San Jose CA 95123) Chaloner-Gill Benjamin (520 Mansion Ct.
  • #303 Santa Clara CA 95054)
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 0

초록

In a new method, a defective electrochemical cell is detected by non-invasive means before assembly into a battery comprising multiple cells. The method detects faulty cells by sensing and detecting variations in the intensity level of infrared radiation emitted from an exterior surface of the cell

대표청구항

A method for determining when an electrochemical cell or battery is faulty comprising scanning and detecting variations in the intensity level of infrared radiation emitted from an exterior major surface of the battery or cell, coextensive with a major surface of an electrode of such cell, said scan

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Erhart, Michael, Battery system temperature monitor.
  2. SempriMoschnig, Christoph; Van Eesbeek, Marc; Heltzel, Stan, Equipment for non-contact temperature measurement of samples of materials arranged under vacuum.
  3. Dewa, Harutada; Hiwada, Kiyoyasu, Evaluation apparatus and evaluation method of sheet type cell.
  4. Franzen, Stefan; Feldheim, Daniel L., Light addressable electrochemical detection of duplex structures.
  5. Murphy,Michael W; Litteer,Brian A, Method for detecting electrical defects in membrane electrode assemblies.
  6. Pepper, David M., Process control methods for use with e-beam fabrication technology.
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