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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0422546 (1995-04-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 43 인용 특허 : 0 |
A method and apparatus for electrically interconnecting various electronic elements, including circuit components, assemblies, and subassemblies. A particle enhanced material metal contact layer, having a surface, formed on the electronic elements, includes particles of greater hardness disposed on
An apparatus for testing at least one integrated circuit in situ on a silicon wafer, comprising: a probe array having individual interconnect elements for contacting corresponding terminal pads on said integrated circuit, each interconnect element of said probe array having a metal contact layer, in
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