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Surface cleaning with argon 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B08B-007/00
출원번호 US-0185184 (1994-01-21)
우선권정보 JP-0011519 (1993-01-27); JP-0031950 (1993-02-22); JP-0071777 (1993-03-30); JP-0082234 (1993-04-08); JP-0189541 (1993-07-30)
발명자 / 주소
  • Tamai Tadamoto (Tokyo JPX) Ikeya Yoichiro (Houya JPX)
출원인 / 주소
  • Sumitomo Heavy Industries, Ltd. (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 27  인용 특허 : 0

초록

Argon gas and nitrogen gas are mixed together and cooled by a cooler to a liquefying temperature of argon gas specific to its pressure, to form argon fine droplets in the mixed gas. The gas is then jetted out of nozzles and blown into a vacuum chamber to adiabatically lower the temperature further a

대표청구항

In a surface cleaning method wherein argon is sprayed through a nozzle device onto the surface of an object to be cleaned, the improvement comprising: an argon fine droplets forming step for forming argon liquid droplets upstream of the nozzle device comprising a cooling step to cool a gas containin

이 특허를 인용한 특허 (27)

  1. Fishkin Boris ; Brown Kyle A., Aerosol substrate cleaner.
  2. Rose Peter H. ; Sferlazzo Piero ; van der Heide Robert G., Aerosol surface processing.
  3. Furusawa Masami,JPX ; Harano Riichiro,JPX, Apparatus and method for cleaning substrate.
  4. Deok-Joo Yoon KR; Myeon-Chang Sung KR; Kwang-Ho Jeong KR, Apparatus and method for dry cleaning of substrates using clusters.
  5. Watanabe, Naoki; Watanabe, Nobuyoshi; Tani, Kazunori; Furukawa, Shinji; Sasaki, Hiromi; Watabe, Osamu, Apparatus for manufacturing magnetic recording disk, and in-line type substrate processing apparatus.
  6. Inai, Kensuke; Dobashi, Kazuya, Cleaning method, processing apparatus, and storage medium.
  7. Ballantine Arne W. ; Warren Ronald A., Cryogenic/phase change cooling for rapid thermal process systems.
  8. Becker David Scott ; Hanestad Ronald J. ; Thomes Gregory P. ; Weygand James F. ; Zimmerman Larry D., Eliminating stiction with the use of cryogenic aerosol.
  9. Han, Yong-Pil; Sawin, Herbert H., HF vapor phase wafer cleaning and oxide etching.
  10. Sawada Hideki,JPX, Image/audio reproducing apparatus.
  11. Rien Willi,DEX, Method and device for the mechanical removal of a layer of alien material from a basic material.
  12. Hiraishi, Masafumi; Kondo, Masataka; Yamagishi, Hideo; Hayashi, Katsuhiko; Okatsu, Toshihide, Method for cleaning photovoltaic module and cleaning apparatus.
  13. Grosenbacher, Tim, Method for sweeping contaminants from a process chamber.
  14. Derie Michel,FRX ; Severac Didier,FRX, Method of cleaning of a polymer containing aluminum on a silicon wafer.
  15. Benson, Peter A., Non-chemical, non-optical edge bead removal process.
  16. Benson, Peter A., Non-chemical, non-optical edge bead removal process.
  17. Yoon, Cheol-Nam, Nozzle for spraying sublimable solid particles entrained in gas for cleaning surface.
  18. Yoon,Cheol Nam, Nozzle for spraying sublimable solid particles entrained in gas for cleaning surface.
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  20. Matsuno, Kousaku; Iga, Masao; Ueda, Takeji; Kanayasu, Jun; Shikami, Satoshi, Substrate cleaning apparatus.
  21. Aoki Hidemitsu,JPX, Substrate cleaning method and apparatus.
  22. Matsui, Hidefumi; Moriya, Tsuyoshi; Narushima, Masaki, Substrate cleaning method and substrate cleaning device.
  23. Matsuo, Jiro; Seki, Toshio; Aoki, Takaaki; Dobashi, Kazuya; Inai, Kensuke; Saito, Misako, Substrate cleaning method, substrate cleaning device, and vacuum processing device.
  24. Butterbaugh, Jeffery W.; Mbanaso, Chimaobi W.; Becker, David Scott, Systems and methods for treating substrates with cryogenic fluid mixtures.
  25. Butterbaugh, Jeffery W.; Mbanaso, Chimaobi W.; Becker, David Scott, Systems and methods for treating substrates with cryogenic fluid mixtures.
  26. Mbanaso, Chimaobi W.; Butterbaugh, Jeffery W.; Becker, David Scott, Systems and methods for treating substrates with cryogenic fluid mixtures.
  27. Patrin John C. ; Heitzinger John M., Treating substrates by producing and controlling a cryogenic aerosol.
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