최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0263628 (1994-06-22) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 25 인용 특허 : 0 |
A circuit and method for determining the operating performance of an integrated circuit which may be used to screen integrated circuits prior to sale or delivery, or to optimize the frequency of the integrated circuit during use. The circuit employs a comparison circuit to compare a first time of ar
A circuit for determining the operating performance of an integrated circuit comprising: a clock circuit which produces a clock signal; a first signal path through the integrated circuit and coupled at a first end to the clock circuit; a second signal path through the integrated circuit and coupled
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.