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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0116111 (1993-09-02) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 5 인용 특허 : 0 |
A computer-based deep level transient spectroscopy (DLTS) system (10) efficiently digitizes and analyzes capacitance and conductance transients acquired from a test material (13) by conventional DLTS methods as well as by several transient methods, including a covariance method of linear predictive
A system for performing deep level transient spectroscopy (DLTS) analysis on a material, said DLTS analysis including analysis of an impedance of the material, said impedance including a series resistance, a parallel conductance and a parallel capacitance, said system comprising: means for applying
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