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Integrity checking procedure for high throughput data transformations 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06K-009/20
  • G06K-009/36
출원번호 US-0269422 (1994-06-30)
발명자 / 주소
  • Noble William B. (Santa Monica CA) Bradley Thomas W. (Newbery Park CA) Autry Michael W. (Woodland Hills CA)
출원인 / 주소
  • Hughes Electronics (Los Angeles CA 02)
인용정보 피인용 횟수 : 10  인용 특허 : 5

초록

Integrity checking apparatus and procedures for checking safety-critical high throughput data and image transformations. The present invention randomly samples input and output data streams and uses the sampled data in either a forward or backward transformation to verify that the input data and out

대표청구항

Integrity checking apparatus for ensuring the correctness of transformed image data comprising: first transform means for transforming input imagery data into transformed output imagery data; first sampling means for sampling an input region of the input imagery data to provide sampled input imagery

이 특허에 인용된 특허 (5)

  1. McDonald Mark A. (Dallas TX) Zeeff Michael A. (Richardson TX), Dynamic circuit checking apparatus using data input and output comparisons for testing the data integrity of a circuit.
  2. Jones Paul W. (Churchville NY) Melnychuck Paul W. (West Henrietta NY), Hybrid residual-based hierarchical storage and display method for high resolution digital images in a multiuse environme.
  3. Nakazawa Tamotsu (Yokohama JPX), Image processing apparatus with compression error detector.
  4. Desmond John P. (1954 SE. Quail Cir. Hillsboro OR 97124) Ford Douglas W. (283 NE. 34th Pl. Hillsboro OR 97124) Fossey Michael E. (2320 22nd Ave. Forest Grove OR 97116) Stanbro Michael (7850 SW. Hemlo, Method and apparatus for detecting control system data processing errors.
  5. Hara Yasuhiko (Yokohama JPX) Ohshima Yoshimasa (Yokohama JPX) Fushimi Satoru (Yokohama JPX) Makihira Hiroshi (Yokohama JPX), Method of detecting pattern defect and its apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (10)

  1. Aaraj, Najwa; Christodorescu, Mihai; Pendarakis, Dimitrios; Sailer, Reiner; Schales, Douglas L., Optimizing performance of integrity monitoring.
  2. Klotz, Steve; Connell, Michael D.; Lanteigne, Mark J., Scalable multithreaded system testing tool.
  3. Klotz,Steve; Connell,Michael D.; Lanteigne,Mark J., Scalable network attached storage (NAS) testing tool.
  4. Giuffrida, Frank; Schultz, Stephen, System for detecting image abnormalities.
  5. Giuffrida, Frank; Schultz, Stephen, System for detecting image abnormalities.
  6. Giuffrida, Frank; Schultz, Stephen, System for detecting image abnormalities.
  7. Giuffrida, Frank; Schultz, Stephen, System for detecting image abnormalities.
  8. Giuffrida, Frank; Schultz, Stephen, System for detecting image abnormalities.
  9. Yoshino, Hiroki; Koyama, Etsutaro, Transmitter and a method for duplicating same.
  10. Bridge, Jr.,William H.; Williams,James, Verifying input/output command data by separately sending data to be written and information about contents of the data.
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