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Method for locating eye points on objects subject to size variations 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06K-009/00
출원번호 US-0144002 (1993-11-01)
발명자 / 주소
  • MacDonald Virginia N. (Lansdale PA) Tran Don A. (Perkasie PA)
출원인 / 주소
  • Kulicke and Soffa Investments, Inc (Wilmington DE 02)
인용정보 피인용 횟수 : 13  인용 특허 : 16

초록

A novel method for locating eye point features on patterns or objects whose size varies between the reference object and the find object includes generating a set of reference vectors that define the location of the reference eye point. The set of vectors is modified and separated equidistant from e

대표청구항

A method for locating eye points on lead frame like objects that are subject to size variations, comprising the steps of: acquiring a video camera image of a reference object having a known position in a PRS system, isolating a teach window area in the camera image field which contains a reference o

이 특허에 인용된 특허 (16)

  1. Nakano Masaru (Nagoya JPX) Sukigara Kazutoshi (Aichi JPX), Apparatus for visual recognition.
  2. Beers Gregory E. (Austin TX) Flickner Myron D. (San Jose CA) Kelly-Mahaffey William L. (Austin TX) Polk Darryl R. (Austin TX) Stafford James M. (Round Rock TX) Wattenbarger Henry E. (Pflugerville TX), Automated visual inspection of electronic component leads prior to placement.
  3. Dhle Lothar (Herrenberg DEX) Rudolph Volker (Aidlingen DEX) Ruppert Werner (Schoenaich DEX), Automatic signature verification.
  4. Honma Kazuhiro (Tokyo JPX) Shimizu Kajuro (Miyoshi JPX) Nakatani Tetsu (Higashimurayama JPX) Takenaka Eiichi (Tokyo JPX), Device for displaying feature of contour image.
  5. Lehmer Donald E. (Berkeley CA) Kirschbaum Alan R. (Oakland CA), Gaze tracking for field analyzer.
  6. Cass Todd A. (Cambridge MA) Huttenlocher Daniel P. (Ithaca NY) Wayner Peter C. (Ithaca NY), Image processing using distance as a function of direction.
  7. Ueno Hiroshi (Doshomachi JPX) Nishi Hisami (Doshomachi JPX), Method for collating independent figure elements between images.
  8. Holdgrafer William J. (Burlington NJ), Method of centering bond positions.
  9. Suzuki Kenji (Ebina JPX) Hata Seiji (Fujisawa JPX) Nishida Yoshien (Yokohama JPX) Kawasaki Kyoichi (Funabashi JPX) Fujii Kenjiro (Funabashi JPX) Shimura Yasunori (Chiba JPX) Takeyoshi Shigenori (Abik, Method of loading surface mounted device and an apparatus therefor.
  10. Terzian John (Winchester MA), Method of recognizing patterns.
  11. Berkin George M. (Yardley PA), Pattern recognition apparatus and method.
  12. Kobayasi Akira (Osaka JPX) Taira Nobutaka (Hirakata JPX) Mizuoka Seiji (Katano JPX), Position recognizing method and apparatus therefor.
  13. Nishida Yoshie (Yokohama JPX) Hata Seiji (Fujisawa JPX) Miyakawa Akira (Yokohama JPX), Posture judgement system in image processing.
  14. Juvin Didier (Paris FRX) Tan Shenbiao (Les Ulis FRX), Process for the automatic recognition of objects liable to overlap.
  15. Ricketson Tommy H. (Danboro PA) Shah Gautam N. (Norristown PA) Bram Bruce M. (Perkasie PA) Tehrani Mohmod M. (Paoli PA), Smart indexing head for universal lead frame work station.
  16. Kumagai Ryohei (Tokyo JPX), Vectorizing method.

이 특허를 인용한 특허 (13)

  1. Hoffberg, Steven M.; Hoffberg-Borghesani, Linda I., Adaptive pattern recognition based controller apparatus and method and human-interface therefore.
  2. Hoffberg, Steven M.; Hoffberg-Borghesani, Linda I., Alarm system controller and a method for controlling an alarm system.
  3. Hoffberg, Steven M.; Hoffberg-Borghesani, Linda I., Internet appliance system and method.
  4. Hoffberg, Steven M.; Hoffberg-Borghesani, Linda I., Internet appliance system and method.
  5. Strassmann, Allan Wallace, Method of locating and placing eye point features of a semiconductor die on a substrate.
  6. Deley, Michael T.; Lister, Peter M.; Sood, Deepak; Wang, Zhijie, Method of teaching eyepoints for wire bonding and related semiconductor processing operations.
  7. Krumm,John; Campbell,Richard, Object recognition using binary image quantization and Hough kernels.
  8. Krumm, John; Campbell, Richard J., Object recognition using binary image quantization and hough kernels.
  9. Melikian,Simon Haig; Tyminski,Daren Benedykt, System and method for pattern identification.
  10. Sugiyama, Akiyuki; Shindo, Hiroyuki, System and method of image processing, and scanning electron microscope.
  11. Sugiyama, Akiyuki; Shindo, Hiroyuki, System and method of image processing, and scanning electron microscope.
  12. Stephen S. Wilson, Vector correlation system for automatically locating patterns in an image.
  13. Sasano Toshiaki,JPX, Wire bonding method.
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