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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0138566 (1993-10-18) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 58 인용 특허 : 5 |
A substrate for use in semiconductor devices, fabricated of silicon carbide and having a resistivity of greater than 1500 Ohm-cm. The substrate being characterized as having deep level impurities incorporated therein, wherein the deep level elemental impurity comprises one of a selected heavy metal,
A composition of matter for use in semiconductor devices, fabricated of single polytype silicon carbide and having a resistivity of at least 1500W300 meV and include a selected heavy metal; and wherein the selected heavy metal is an element found in periodic groups IIIB, IVB, VB, VIB, VIIB, VIIIB, I
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