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Device for inspecting wiring harness 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/02
  • G01R-019/00
출원번호 US-0558699 (1995-11-16)
우선권정보 JP-0292739 (1994-11-28)
발명자 / 주소
  • Taniguchi Yoshikazu (Yokkaichi JPX) Kato Katsutoshi (Yokkaichi JPX)
출원인 / 주소
  • Sumitomo Wiring Systems, Ltd. (JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 13  인용 특허 : 0

초록

An inspecting device body (1) including an input terminal group (23), an output terminal group (24), a connection terminal group (25), a signal output portion (38), a signal input portion (39), first and second memory portions (40, 41), a comparing and determining portion (42), a lighting and flashi

대표청구항

A wiring harness inspecting device for inspecting a plurality of terminals mounted on opposite ends of a plurality of cables of a wiring harness to be inspected for correct insertion into a plurality of corresponding terminal receiving holes of a connector, said wiring harness inspecting device comp

이 특허를 인용한 특허 (13)

  1. Taniguchi, Yoshikazu; Taniguchi, Satoru; Chiyoda, Kenji; Kato, Hajime, Apparatus for a wire mount control.
  2. Brent C. Rankin, Automated verification of proper connectivity of components to a wiring harness during assembly of article of manufacture.
  3. Thomas,Geoffrey L., Electrical interconnect interface and wire harness test and test development system and method.
  4. Toyama, Koji; Nakayama, Yoshihiro, Failure rate calculation device.
  5. Guglielmo, Kennon; Peterson, Eric, Integrated wire harness batch production systems and methods.
  6. Sasaki Tohru,JPX, Method and apparatus for detecting an abnormal current in automotive wiring harnesses.
  7. Feenstra, Roger Dale, Method for detecting or predicting an electrical fault.
  8. Taniguchi, Yoshikazu; Taniguchi, Satoru; Chiyoda, Kenji; Kato, Hajime, Probe for a wire inserting detection jig.
  9. Pham,Hung M; Warner,Wayne R, Refrigeration system including thermoelectric module.
  10. Pham,Hung M; Warner,Wayne R, Refrigeration system including thermoelectric module.
  11. Islam, Rashed Adnan; Patil, Saket; Rust, Ian Charles, Test fixture to test device connectors.
  12. Akei, Masao; Ignatiev, Kirill; Jayanth, Nagaraj; Pham, Hung M.; Caillat, Jean-Luc M., Vapor compression circuit and method including a thermoelectric device.
  13. Gervais, François, Wireless portable automated harness scanner system and method therefor.
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