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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0535669 (1995-09-28) |
우선권정보 | JP-0235162 (1994-09-29) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 4 |
An apparatus of this invention emits light onto an EO probe and detects the light reflected by the EO probe by using an MSM photodetector. The MSM photodetector is applied with a voltage of a frequency nf0+D
A voltage measurement system comprising: (A) a probe adapted to be arranged near a device to be measured, said probe being comprised of an electro-optic material; (B) a photodetector for detecting light reflected by said probe; and (C) a unit for applying a voltage of a frequency nf0+D0 is a frequen
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