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Cleaning method for exhaust gas containing ammonia and silane 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B01D-053/58
  • B01D-053/64
  • B01D-053/72
  • B01D-053/04
출원번호 US-0451134 (1995-05-26)
우선권정보 JP-0155316 (1994-06-13)
발명자 / 주소
  • Ishii Yasu (Kanagawa JPX) Akita Noboru (Kanagawa JPX)
출원인 / 주소
  • Japan Pionics Co., Ltd. (Tokyo JPX 03)
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 4

초록

A cleaning method for an exhaust gas containing ammonia, silanes, and organometallic compounds exhausted from a nitride film production step, etc., for producing compound semiconductors. After removing the silanes and the organometallic compounds from the exhaust gas by contacting the exhaust gas wi

대표청구항

A cleaning method for an exhaust gas containing ammonia, silanes, and organometallic compounds, which comprises contacting the exhaust gas with a cleaning agent A comprising soda lime or soda lime having provided thereon a copper(II) compound to remove the silanes and the organometallic compounds, c

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Kitayama Masayasu (Kawasaki JPX) Sugimori Yoshiaki (Tokyo JPX) Ohta Schunich (Fujisawa JPX), Absorbent for treating gases containing the materials used for semiconductor products and process of treating such gases.
  2. Gkcek Cetin (Muhlheim DEX), Copper sulfate absorption mass to remove AsH3, PH3, B2H6, GeH 상세보기
  • Nakamura Shuji (Anan JPX), Crystal growth method for gallium nitride-based compound semiconductor.
  • Hardwick, Steven; McManus, James V., Process for sorption of hazardous waste products from exhaust gas streams.
  • 이 특허를 인용한 특허 (7)

    1. Kenji Otsuka JP; Yutaka Amijima JP; Ryuji Hasemi JP; Youji Nawa JP, Cleaning agent and cleaning process of harmful gas.
    2. Otsuka, Kenji; Muranaga, Naoki; Arakawa, Satoshi; Ikeda, Tomohisa, Method of cleaning of harmful gas and cleaning apparatus.
    3. Teru Suehachi,JPX ; Miyano Yasusada,JPX ; Akita Noboru,JPX ; Otsuka Kenji,JPX ; Shimada Takashi,JPX, Process and apparatus for cleaning exhaust gas.
    4. Alvarez, Jr., Daniel; Spiegelman, Jeffrey J., Self-regenerative process for contaminant removal from ammonia.
    5. Derek Martin Baker GB, Semiconductor processing exhaust abatement.
    6. Choate Charles A. ; Lunn Michael R, Silane oxidation exhaust trap.
    7. Choate, Charles A.; Lunn, Michael R., Silane oxidation exhaust trap.

    문의처: helpdesk@kisti.re.kr전화: 080-969-4114

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