$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

[미국특허] Adhesion and cohesion testing system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-019/08
출원번호 US-0746496 (1996-11-12)
발명자 / 주소
  • Mann George E. (1816 Oak St. Pasadena CA 91030)
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 2

초록

A method and system are provided for testing the adhesive strength of a bond between an adhesive, a coating such as paint, or some other material, and an underlying substrate to which the test substance is bonded. The test may be performed at room temperature or in an environmental chamber at extrem

대표청구항

A method for testing the strength of a test substance bonded to a substrate comprising the steps of: forming an aperture through the substrate; covering the aperture with a thin film positioned atop the substrate and extending beyond the perimeter of the aperture; applying the test substance to the

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. Seiler ; Jr. James F. N. (Frederick MD), Bond testing apparatus.
  2. Seiler ; Jr. James F. N. (Frederick MD), Pneumatic adhesion tester.

이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Ting Y. Tsui ; Young-Chang Joo, Adhesion strength testing using a depth-sensing indentation technique.
  2. Logan,Brian Matthew; Hahn,Bruce Raymond; Sentmanat,Martin Lamar; Tubb,Gary Edwin; Lettieri,Joseph Carmine, Apparatus and method for testing tire liner surface adhesion capability.
  3. Manoj Chopra ; Charles H. Lee ; Thorsten Lohmeyer DE; Jay Allan Merz ; Hoa-Binh Tu, Burnishing tape testing method and device.
  4. Bousfield Douglas W. ; Coleman Phillip S. ; Hassler John C. ; Osgood Alonzo K., Devices and methods for testing tack uniformity of a coating on a substrate.
  5. Beebe, David J.; Kim, Dongshin, Method and device for detecting a material.
  6. Chuang Lung-Hsiang,TWX ; Chang Chung-Long,TWX ; Jang Syun-Ming,TWX ; Chao Ying-Chen,TWX, Method for stud pull test for film formed on semiconductor device.
  7. Remer, James H., Method of analyzing tamper evident tape residue.
  8. Hunt Thomas J. ; Gilman Paul S., Method of testing a bond interface.
  9. Frisch, Douglas Allen; Bossi, Richard H.; Grace, William Bruce Hopkins; Piehl, Marc Joel; Blohowiak, Kay Youngdahl; Shelley, Jr., Paul H., Methods for fabricating test specimen assembly having weak adhesive bonds.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로