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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0632881 (1996-04-16) |
우선권정보 | JP-0129042 (1995-04-28) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 13 인용 특허 : 6 |
A gas analyzing apparatus comprises a light source (34) emitting an infrared luminous flux; a sample cell (38) which is arranged such that a sample gas is introduced therein and the infrared luminous flux emitted from the light source (34) is transmitted therethrough; and detection means (10a, 10b)
A gas analyzing apparatus comprising a light source emitting an infrared luminous flux; a sample cell which is arranged such that a sample gas is introduced therein and the infrared luminous flux emitted from said light source is transmitted therethrough; and a detection means which contains an abso
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