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Apparatus and method for measuring temperature and/or emissivity of steel strip during a coating process 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-005/00
출원번호 US-0616894 (1996-03-15)
발명자 / 주소
  • Rudolph Ralph G. (Center Valley PA)
출원인 / 주소
  • Bethlehem Steel Corporation (DE 02)
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 17

초록

Method and apparatus for measuring the surface temperature/emissivity of coated steel strip during a coating (e.g., galvannealing) process. The apparatus includes first and second radiation sensors each having a response exponentially related to the reciprocal of absolute temperature when viewing a

대표청구항

An apparatus for measuring the surface temperature and emissivity of coated steel strip during a coating process comprising: a first radiation sensor for receiving radiation from an area on the surface of the coated steel strip and for providing a first signal indicative of the radiation received; a

이 특허에 인용된 특허 (17)

  1. Stein Alexander (Secaucus NJ), Apparatus for remote measurement of temperatures.
  2. Gat Arnon (Palo Alto CA) French Michael (San Jose CA), Bichannel radiation detection apparatus.
  3. Rudolph Ralph G. (Pittsburgh PA), Dual sensor radiation pyrometer.
  4. Brouwer Nicholaas L. (Allegheny Township ; Allegheny County PA) Urbanic John M. (Churchill Borough PA) Anderson Albert R. (White Valley PA), Emissivity error correcting method for radiation thermometer.
  5. Khan Mansoor A. (Grafton MA) Allemand Charly (Newtonville MA) Eagar Thomas W. (Belmont MA), Emissivity independent multiwavelength pyrometer.
  6. Brogardh Torgny (Vesteras SEX) Sander Lars (Vesteras SEX), Fiber optical temperature measurement devices.
  7. Iuchi Tohru (Kawasaki JPX), Method and an apparatus for simultaneous measurement of both temperature and emissivity of a heated material.
  8. Fischbach Jean-Paul F. (Neupre BEX), Method and apparatus for measuring emissivity.
  9. Yamada, Takeo; Harada, Naoki; Imai, Kiyotaka, Method for continuously measuring surface temperature of heated steel strip.
  10. Iuchi Tohru (Kawasaki JPX) Watanabe Kunitoshi (Fukuoka JPX) Shibata Toshihiko (Tokai JPX) Kawamura Tetsuro (Kitakyushu JPX), Method of and an apparatus for measuring surface temperature and emmissivity of a heated material.
  11. Baldasarri Giuseppe (Carrollton GA), Method of and apparatus for radiation pyrometric temperature measurement of a continuous cast metal bar.
  12. Wintrich Franz (Essen DEX) Kaiser Dieter (Dortmund DEX) Eisenloher Holger (Heiligenhaus DEX) Mindermann Kurt-Henry (Ratingen DEX), Method to determine characteristic features of processes forming radicals.
  13. Wickersheim Kenneth A. (Menlo Park CA) Sun Mei H. (Los Altos CA) Heinemann Stanley O. (Irvine CA), Optical temperature measurement techniques.
  14. Wickersheim Kenneth A. (Menlo Park CA) Sun Mei H. (Los Altos CA) Heinemann Stanley O. (Irving CA) Hinemann Stanley O. (Irvine CA), Optical temperature measurement techniques.
  15. Arima Jiro (Osaka JPX) Tsujimura Hiroji (Osaka JPX), Pyrometer.
  16. Tanaka Fumio (Fukuoka IN JPX) DeWitt David P. (West Lafayette IN), Radiation thermometry.
  17. Poenisch Paul (Santa Clara CA) Hansen Keith (San Jose CA), Remote measurement of temperature.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Legoupil, Jean Luc, Optical method and device for detecting surface and structural defects of a travelling hot product.
  2. Pompei, Francesco, Radiation detector with passive air purge and reduced noise.
  3. Britton ; Jr. Charles L. ; Beshears David L. ; Simpson Marc L. ; Cates Michael R. ; Allison Steve W., Real-time method and apparatus for measuring the temperature of a fluorescing phosphor.
  4. Tien-Yu Tom Lee ; James Vernon Hause ; Li Li, System and method to control solder reflow furnace with wafer surface characterization.
  5. Donovan, David H., Temperature determination based on emissivity.
  6. Ralph A. Felice, Temperature determining device and process.
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