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Method of forming electron beam emitting tungsten filament 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01J-009/02
출원번호 US-0574480 (1995-12-19)
발명자 / 주소
  • Alvis Roger L.
  • Gray Janice
  • Tracy Bryan
출원인 / 주소
  • Advanced Micro Devices, Inc.
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 4

초록

Electron beam emitting filaments having a tip with a radius of curvature less than about 50 .ANG. are produced using focused ion beam milling. In one embodiment, platinum is deposited on a tungsten loop electron beam filament and sharpened using focused ion beam milling to a radius of curvature less

대표청구항

[ We claim:] [1.] A method of manufacturing an electron beam emitting filament having a tip, which method comprises: depositing platinum on an electron beam emitting filament; and sharpening the deposited platinum with a focused ion beam to produce the tip.

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Kado Hiroyuki (Katano JPX) Tohda Takao (Ikoma JPX), Cantilever stylus for use in an atomic force microscope and method of making same.
  2. Hori Yoshikazu (Kobe JPX) Koga Keisuke (Uji JPX), Field-emitter having a sharp apex and small-apertured gate and method for fabricating emitter.
  3. Ayers Jack D. (Oakton VA), Method of making composite field-emitting arrays.
  4. Busta Heinz H. (Park Ridge IL), Recessed gate field emission.

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Colby, Steven M., Electron source.
  2. Lyding, Joseph W.; Schmucker, Scott W., Nanometer-scale sharpening of conductor tips.
  3. Musket Ronald G., Sharpening of field emitter tips using high-energy ions.
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