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Process of acquiring with an X=Y scannable array camera light emanted from a subject 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06K-009/00
출원번호 US-0472473 (1995-06-07)
발명자 / 주소
  • Castonguay Raymond Joseph
출원인 / 주소
  • Breault Research Organization
대리인 / 주소
    Lisa
인용정보 피인용 횟수 : 13  인용 특허 : 13

초록

A portable scatterometer and/or an angular radiated light measurement instrument that uses a measurement head which includes a double tapered fiber optic bundle with a concave front face to simultaneously collect partial or full hemispherically scattered light reflected from a point on a surface ill

대표청구항

[ I claim:] [1.] The process of acquiring, with a camera having an x-y scannable array of pixels, light emanated from a subject comprising the steps of:a) measuring the ambient light and storing the measurement in a first frame which is a reference frame,b) illuminating the subject with a laser diod

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Del Signore ; II ; James R., Ambient light compensating circuit.
  2. Harootian ; Jr. Simon G. (Worcester MA), Anamorphic fused fiber optic bundle.
  3. Castonguay Raymond J. (Tucson AZ), Apparatus and method of rapidly measuring hemispherical scattered or radiated light.
  4. Carroll Arthur B. (Georgetown TX) Carstedt John K. (Round Rock TX), Early fault detection in an opto-matrix touch input device.
  5. Jeskey Richard V. (Fiskdale MA), Focusable display screen.
  6. Hegg Ronald G. (Inglewood CA), High-contrast fiber optic diffusion faceplate with radiused fibers.
  7. Reisser Helmut (Rosenstrasse 6 D-8026 Ebenhausen DEX), Instrument for determining visual surface properties.
  8. Bates Richard D. (Ann Arbor MI), Method and apparatus for self-biasing a light beam obstacle detector with a bias light.
  9. Schneiter John L. (Latham NY), Optical fiber based sensor for a variable depth range camera.
  10. Halldorsson Thorstein (Munich DEX) Altmann Konrad (Munich DEX) Seiffarth Ernst-August (Taufkirchen DEX), Optical wide angle sensor head.
  11. Castonguay Raymond J. (Tucson AZ), Process of reconstructing a single data profile of rapidly measured hemispherical scattered or radiated light.
  12. Blau David (Cupertino CA), Self-checking light curtain system and method of operation.
  13. Carroll Arthur B. (St. Joseph IL) Lazarevich Vladeta D. (Bondville IL) Gardner Mark R. (Champaign IL), Touch panel with ambient light sampling.

이 특허를 인용한 특허 (13)

  1. Yoshinori Hosokawa JP, Apparatus for inspecting face plate for color CRT.
  2. Bonnet, Gerhard, Bi-directional reflectance distribution measuring instrument.
  3. Yamamoto,Akihito; Nakao,Takashi; Mikata,Yuuichi; Tsunashima,Yoshitaka, Cleaning method for a semiconductor device manufacturing apparatus.
  4. Wallace,Jon K.; Khairallah,Farid; Dunbridge,Barry; Berenz,John J., Enhancement of vehicle interior digital images.
  5. Boxen Izzie,CAX, Fiber optic gamma camera having scintillating fibers.
  6. Evan F. Cromwell ; Johann F. Adam, Laser scatterometer with adjustable beam block.
  7. Krantz,Eric P.; DeAngelis,Douglas J.; Sigel,Kirk, Method and apparatus to effectively reduce a non-active detection gap of an optical sensor.
  8. Szwaykowski, Piotr; Castonguay, Raymond J., Methods for determining error in an interferometry system.
  9. Majewicz, Peter I.; Melin, Jennifer L., Noise suppression.
  10. Benedetti,Angelo; Pasini,Ezio; Forlani,Franco; Montanari,Luca, Portable apparatus for the non-destructive measurement of the internal quality of vegetable products.
  11. Yamamoto,Akihito; Nakao,Takashi; Mikata,Yuuichi; Tsunashima,Yoshitaka, Semiconductor device manufacturing method, semiconductor device manufacturing apparatus, semiconductor device manufacturing system, and cleaning method for semiconductor device manufacturing apparatu.
  12. Castonguay,Raymond J., Spherical scattering-light device for simultaneous phase and intensity measurements.
  13. Szwaykowski, Piotr, White light scanning interferometer with simultaneous phase-shifting module.
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