최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0671903 (1996-06-28) |
발명자 / 주소 |
|
출원인 / 주소 |
|
대리인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 22 인용 특허 : 3 |
A semiconductor interconnection consists of a corrosion resistant integrated fuse and Controlled, Collapse Chip Connection (C4) structure for the planar copper Back End of Line (BEOL). Non copper fuse material is directly connected to copper wiring.
[ Having thus described our invention, what we claim as new and desire to secure by Letters Patent is as follows:] [1.] An interconnection structure for a semiconductor circuit comprising:a first interconnection layer including a first non-self-passivating conductor, said layer having its upper surf
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.