$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Method of electro-optical measurement for vector components of electric fields and an apparatus thereof 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01J-004/00
출원번호 US-0506385 (1995-07-24)
우선권정보 JP-0291884 (1994-11-28)
발명자 / 주소
  • Itatani Taro,JPX
  • Nakagawa Tadashi,JPX
  • Sugiyama Yoshinobu,JPX
  • Ohta Kimihiro,JPX
출원인 / 주소
  • NTT Mobile Communications Network, Inc., JPX
대리인 / 주소
    Hoare, Jr.
인용정보 피인용 횟수 : 5  인용 특허 : 13

초록

An apparatus of measuring an electric signal comprises a laser device, optical elements, an electrooptic crystal, a photoelectric converter, and an electric circuit. The electrooptic crystal is selected from the materials in the type of having properties of changing its refractive index in the direc

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A method of electro-optical measurement for vector components of an electric field by a detection of a potential between two points in an electric circuit or an electric field generated by said electric circuit, in which variations in optical characteristics of an electro

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Hiestand Karl (Pfullendorf DEX), Apparatus for operating the clamping jaws of a chuck.
  2. Henley Francois J. (Los Gatos CA), Capacitance imaging system using electro-optics.
  3. Miller Robert C. (New Alexandria PA), Electro-optical voltage measuring system incorporating a method and apparatus to derive the measured voltage waveform fr.
  4. Bloom David M. (Menlo Park CA) Kolner Brian H. (Menlo Park CA), High speed testing of electronic circuits by electro-optic sampling.
  5. Sommargren Gary E. (Livermore CA), Laser heterodyne surface profiler.
  6. Valdmanis Janis A. (Columbus IN) Mourou Gerard (Rochester NY), Measurement of electrical signals with picosecond resolution.
  7. Mourou Gerard (Rochester NY) Meyer Kevin E. (Rochester NY), Measurement of electrical signals with subpicosecond resolution.
  8. Harney Robert C. (Livermore CA), Method and apparatus for pulse stacking.
  9. Yui Dai (Yokohama JPX) Hirai Shigeru (Yokohama JPX) Semura Shigeru (Yokohama JPX), Method for assembling optical isolator and method for measuring isolation.
  10. Henley Francois G. (San Jose CA) Choi Hee-June (Fremont CA) Kratzer Dean J. (Palo Alto CA) Barr Maurice R. (Saratoga CA), Ultra-high-speed digital test system using electro-optic signal sampling.
  11. Henley Francois J. (Los Gatos CA), Voltage imaging system using electro-optics.
  12. Henley Francois J. (Los Gatos CA), Voltage imaging system using electro-optics.
  13. Henley Francois J. (Los Gatos CA), Voltage imaging system using electro-optics.

이 특허를 인용한 특허 (5)

  1. Wu, Dong Ho; Garzarella, Anthony, Apparatus and system for a quasi longitudinal mode electro optic sensor for high power microwave testing.
  2. Zhang Xi-Cheng ; Libelo Louis Francis ; Wu Qi, Electro-optical sensing apparatus and method for characterizing free-space electromagnetic radiation.
  3. Duvillaret, Lionel; Gaborit, Gwenaël, Electrooptic probe for vector measurement of an electromagnetic field.
  4. Katsuragawa, Masayuki, Laser device.
  5. Katsuragawa, Masayuki, Laser device.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로