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Method and system for reducing development time of complex systems utilizing correlation matrices 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G05B-017/02
출원번호 US-0804393 (1997-02-21)
발명자 / 주소
  • Daneshgari Parviz
출원인 / 주소
  • Regents of the University of Michigan
대리인 / 주소
    Brooks & Kushman P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 17  인용 특허 : 7

초록

A method and system for reducing development time of a complex system such as an automobile engine utilizing correlation matrices are provided. First, second and tertiary level correlation matrices are preferably created and stored on a computer system in a LAN. The correlation matrices are provided

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A method for reducing development time of a complex system utilizing correlation matrices, the complex system having major systems, each major system having subsystems and each subsystem having components, the method comprising the steps of:creating and storing on a compu

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Turnbull Robert S. (Sunnyvale CA), Computer-based method and system for product development.
  2. Adiano Cynthia A. (Austin TX) Raines ; Jr. Robert G. (Austin TX) Rowen Robert B. (Round Rock TX), Dynamic manufacturing process control.
  3. Cornett Rickey R. (Dobson NC) Walsh R. Victor (Winston-Salem NC) Willard Ronald S. (Winston-Salem NC) Johnston Michael Z. (Kernersville NC) Saluta Jaime P. (Winston-Salem NC) Tylak Daniel J. (Lewisvi, Intelligent computer integrated maintenance system and method.
  4. Nozawa Takashi (Susono JPX), Method and apparatus for assisting the design of parts of a product.
  5. Schuster Pamela K. (14214 Langbourne Houston TX 77077) Strong James W. (601 Clarence Tomball TX 77375) Conrad Marvin C. (13330 Rain Lily Houston TX 77083), Method and apparatus for data collection of testing and inspection of products made on a production assembly line.
  6. Rauscher Karl Frederick (New Tripoli PA), Method and system for conducting statistical quality analysis of a complex system.
  7. Hirano Seiyo (Higashihiroshima JPX), Method of fault diagnosis in an apparatus having sensors.

이 특허를 인용한 특허 (17)

  1. Austin, Simon Anthony; Waskett, Paul Richard; Baldwin, Andrew Noel; Steele, John Leslie, Apparatus and dependency structure matrix for assisting in optimization of a complex, hierarchical data structure.
  2. Bjornson Carl C. ; Greenlie David G., Apparatus and method for selecting a mechanical seal.
  3. Bjornson, Carl C.; Greenlie, David G., Apparatus and method for selecting a mechanical seal.
  4. Bjornson, Carl C.; Greenlie, David G., Apparatus and method for selecting a mechanical seal.
  5. Bjornson,Carl C.; Greenlie,David G., Apparatus and method for selecting a mechanical seal.
  6. Bjornson,Carl C.; Greenlie,David G., Apparatus and method for selecting a mechanical seal.
  7. Philip Paul Beauchamp ; Jeffrey David Erno ; Byron Andrew Pritchard, Jr. ; Richard Wade Stickles, Designing and making an article of manufacture.
  8. Kopcha, Suzanne Miranda, Distributed product development.
  9. Ito, Tomoyuki; Yasuno, Michiaki; Umemoto, Hiroshi; Inakage, Satoru, Information processing apparatus and method and non-transitory computer readable medium.
  10. Blevins, William M; Shipman, John M, Method and apparatus for analysis of errors, accuracy, and precision of guns and direct and indirect fire control mechanisms.
  11. Lewis Frank L. ; Tacconi Diego A. ; Pastravanu Octavian C.,ROX ; Gurel Ayla,TRX, Method and apparatus for testing and controlling a flexible manufacturing system.
  12. Khan, Khan Mohamed Khirullah Genghis, Method for defining system hierarchy.
  13. Ouchi Sadami,JPX ; Kamiya Takashi,JPX ; Noda Akio,JPX ; Tsujido Yoshinori,JPX, Numerical control apparatus for a machine tool.
  14. Tedone Damian J. ; Schultz John Raymond ; Tascillo Mark Anthony ; Opolsky Norman Hiam, Real-time multiprocessing computer infrastructure for automated testing.
  15. Huber, Robert, System and method for comparing electronics manufacturing data.
  16. Zarkar, Kaveh; L'Bassi, Michael Frank; Quaratiello, Mark James, System and method for in-situ flow verification and calibration.
  17. Planalp, John Eugene; Kopcha, Suzanne Miranda; Deflander, Joseph Fernand, System and method for managing product development.
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