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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0449669 (1995-05-24) |
우선권정보 | JP-0078998 (1993-03-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 75 인용 특허 : 6 |
A thin film transistor, which comprises crystallizing an amorphous silicon film, forming thereon a gate insulating film and a gate electrode, implanting impurities in a self-aligned manner, adhering a coating containing a catalyst element which accelerates the crystallization of the silicon film, an
[ What is claimed is:] [1.] A thin film transistor comprising:a channel semiconductor region comprising intrinsic silicon formed on an insulating surface; andsource and drain semiconductor regions comprising one conductivity type silicon doped with one conductivity type impurity, wherein said channe
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