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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0847890 (1997-04-28) |
우선권정보 | DE-4438300 (1994-10-26) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 8 인용 특허 : 8 |
A method for analyzing or conditioning a measurement value identified in a system process of a measurement system and a measurement value analyzer for carrying out the method, test the measurement value for plausibility at a first comparison point with reference to characteristic variables specific
[ I claim:] [1.] A method for analyzing a measurement value, which comprises:testing a measurement value identified in a system process of a measurement system for plausibility at a first comparison point with reference to characteristic variables specific to the measurement system;deriving a desire
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