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Method for analyzing a measurement value and measurement value analyzer for carrying out the method 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-017/00
출원번호 US-0847890 (1997-04-28)
우선권정보 DE-4438300 (1994-10-26)
발명자 / 주소
  • Scheil Hermann,DEX
출원인 / 주소
  • Siemens Aktiengesellschaft, DEX
대리인 / 주소
    Lerner
인용정보 피인용 횟수 : 8  인용 특허 : 8

초록

A method for analyzing or conditioning a measurement value identified in a system process of a measurement system and a measurement value analyzer for carrying out the method, test the measurement value for plausibility at a first comparison point with reference to characteristic variables specific

대표청구항

[ I claim:] [1.] A method for analyzing a measurement value, which comprises:testing a measurement value identified in a system process of a measurement system for plausibility at a first comparison point with reference to characteristic variables specific to the measurement system;deriving a desire

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Bellows James C. (Maitland FL) Osborne Robert L. (Winter Springs FL) Gonzalez Avelino J. (Winter Springs FL) Kemper Christian T. (Silver Spring MD), Automated system to prioritize repair of plant equipment.
  2. Lipner Melvin H. (Monroeville PA) Impink ; Jr. Albert J. (Murrysville PA), Automatic plant state diagnosis system including a display selection system for selecting displays responsive to the dia.
  3. Kemper Christian T. (Winter Park FL) Bellows James C. (Seminole FL) Kleinosky Pamela J. (Philadelphia PA), Diagnostic apparatus.
  4. Oda Toshihiko (Sagamihara JPX) Katoh Eiichi (Yokohama JPX), Fault diagnosis expert system.
  5. Doskocil Douglas C. (North Reading MA) Offt Alan M. (Chelmsford MA), Method for fault diagnosis by assessment of confidence measure.
  6. Thompson Timothy F. (Pittsburgh PA) Wojcik Robert M. (Greensburg PA), Methods and apparatus for system fault diagnosis and control.
  7. Arcella Frank G. (Bethel Park Borough PA) Bednar Fred H. (Shaler Township ; Allegheny County PA) Schreurs Jan J. (Murrysville PA) Forker James M. (Murrysville PA), Online valve diagnostic monitoring system.
  8. Kemper Christian T. (Winter Park FL) Lowenfeld Simon (Monroeville PA) Fox Mark S. (Pittsburgh PA), Rule based diagnostic system with dynamic alteration capability.

이 특허를 인용한 특허 (8)

  1. Karasawa,Wataru, Apparatus productivity improving system and its method.
  2. Crisan, Adrian, Automatic system configuration management.
  3. Horvitz, Eric J., Learning and reasoning about the context-sensitive reliability of sensors.
  4. Al-Najjar, Basim, Method and an apparatus for predicting the condition of a machine or a component of the machine.
  5. Harms, Klaus-Christoph; Beidl, Christian, Method for the analysis and evaluation of measured values of an open test system.
  6. Natarajan, Govindarajan; Delamarche, Emmanuel; Eckberg, Eric A.; Humenik, James N.; McGroddy-Goetz, Kathleen A.; Partington, Scott; Perrera, Christopher F.; Trivella, Marco G.; Wiwel, Timothy M., Micro-fluidic test apparatus and method.
  7. Natarajan, Govindarajan; Delamarche, Emmanuel; Eckberg, Eric A.; Humenik, James N.; McGroddy-Goetz, Kathleen A.; Partington, Scott; Perrera, Christopher F.; Trivella, Marco G.; Wiwel, Timothy M., Micro-fluidic test apparatus and method.
  8. Osborn, Brock Estel; Stanard, Christopher Leon; Handkins, David Mark; Hershey, John Erik, Reliability assessment method, apparatus and system for quality control.
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