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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0666981 (1996-06-20) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 77 인용 특허 : 27 |
A method of adjusting the cathode DC bias in a plasma chamber for fabricating semiconductor devices. A dielectric shield is positioned between the plasma and a selected portion of the electrically grounded components of the chamber, such as the electrically grounded chamber wall. The cathode DC bias
[ We claim:] [1.] A plasma chamber for fabricating semiconductor devices, comprising:(a) a plasma chamber;(b) a gas inlet for receiving a gas into the chamber;(c) plasma excitation means for exciting the gas to a plasma state;(d) an exhaust port through which gas can be exhausted from the chamber;(e
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