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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0728886 (1996-10-10) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 65 인용 특허 : 3 |
A Test Adapter for actively testing chip package such as a ball grid array in operation with a printed circuit board are disclosed. The test adapter provides accessible test points for monitoring input and output signals of an operating chip package. The adapter includes an interface adapter board h
[ What is claimed is:] [1.] A test adapter for providing accessible test points for actively monitoring multiple input and output signals of a ball grid array integrated circuit chip package, said adapter comprising:a BGA pin header for passing input/output signals between said grid array (BGA) inte
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