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Multiple station CD-ROM testing system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B07C-005/00
  • B07C-005/34
  • B07C-053/42
  • G11B-017/22
출원번호 US-0017694 (1997-02-03)
발명자 / 주소
  • Wu Chin-Ching,TWX
출원인 / 주소
  • Behavior Tech Computer Corp., TWX
대리인 / 주소
    Rosenberg, Klein & Bilker
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 4

초록

A multiple station CD-ROM testing system includes a conveyance device, a first gripping device, a multiple station testing device having a number of testing stations arranged in a vertically stacked fashion, a second gripping device, a collection device, and a controlling device comprised of a singl

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A multiple station CD-ROM testing apparatus comprising a first gripping device, a conveyance device for moving a number of CD-ROMs fed into the apparatus in a longitudinal direction, a multiple station testing device comprising a plurality of testing stations, a second gr

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Hazama Kensuke ; Huang Liang-Yu, Apparatus and method for integrating intelligent manufacturing system with expert sheet metal planning and bending syst.
  2. Fan Jackley,TWX, CD-ROM testing apparatus.
  3. Schlinkmann Alex W. (Plantation FL) Strain Jeffrey A. (Sunrise FL), Linear sorting machine and method.
  4. Broude Sergey V. ; Allen Nicholas ; Boudour Abdu ; Chase Eric ; Johnson Carl ; Miller Pascal ; Ormsby Jay, Multistation surface inspection system.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Kalm, W Scott; Olson, Douglas E; Brouwer, Gerald A; Schiesser, Ricardo N; Cotter, David H, Automatic tray handling system for sorter.
  2. Polyakov, Evgeny; Garcia, Edward; Truebenbach, Eric L.; Merrow, Brian S.; Whitaker, Brian J., Transferring storage devices within storage device testing systems.
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