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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0049318 (1998-03-27) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 33 인용 특허 : 7 |
A test circuit for arc fault detectors of the type which respond to step changes in ac current over time generated each time an arc is struck includes a low frequency relaxation oscillator which generates a repetitive signal with step changes like those produced by an arc fault. The relaxation oscil
[ What is claimed is:] [1.] A test circuit for testing an arc fault detector which responds to a plurality of step increases in an alternating current in an ac power system caused by an arc fault over a period of time, said test circuit comprising:a power source;a relaxation oscillator powered by sa
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