최소 단어 이상 선택하여야 합니다.
최대 10 단어까지만 선택 가능합니다.
다음과 같은 기능을 한번의 로그인으로 사용 할 수 있습니다.
NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
---|---|
국제특허분류(IPC7판) |
|
출원번호 | US-0064075 (1998-04-22) |
우선권정보 | JP-0143279 (1997-05-15) |
발명자 / 주소 |
|
대리인 / 주소 |
|
인용정보 | 피인용 횟수 : 16 인용 특허 : 5 |
A temperature detection circuit that minimizes the influence of variations due to manufacturing process and other factors, and can be used at high temperatures near its maximum usable temperature. According to the present invention, a temperature detection circuit is provided which comprises: a firs
[ We claim:] [1.] A temperature detection circuit (200), comprising:a first current source (10) coupled to a detection node (A);a second current source (20) coupled in series to the first current source, and coupled to the detection node, the second current source having a temperature coefficient di
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.