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Apparatus for and method of conditioning chemical mechanical polishing pad during workpiece polishing cycle 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B24B-053/00
출원번호 US-0127344 (1998-07-31)
발명자 / 주소
  • Lofaro Michael F.
출원인 / 주소
  • International Business Machines Corporation
대리인 / 주소
    Scully, Scott, Murphy & PresserMortinger
인용정보 피인용 횟수 : 19  인용 특허 : 7

초록

A method and apparatus for conditioning a polishing pad. In this method and apparatus a glazed polishing pad is conditioned by being contacted with a stream of cryogenic pellets.

대표청구항

[ Having thus described my invention, what I claim as new, and desire to secure by Letters Patent is:] [1.] A method of conditioning a glazed polishing pad having a glaze therein comprising a step of contracting said glazed polishing pad with a stream of cryogenic particles whereby said glaze on sai

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Southwick Scott A., Apparatus and method for refurbishing fixed-abrasive polishing pads used in chemical-mechanical planarization of semicon.
  2. Breivogel Joseph R. (Aloha OR) Price Matthew J. (Portland OR) Barns Christopher E. (Portland OR), Method and apparatus for conditioning a semiconductor polishing pad.
  3. Robinson Karl M., Method and apparatus for conditioning polishing pads used in mechanical and chemical-mechanical planarization of substra.
  4. Mains ; Jr. Gilbert L. (1200 Hayes Industrial Dr. Marietta GA 30062), Method and apparatus for material removal.
  5. Renteln Peter Henry (Sunnyvale CA), Methods and apparatus for control of polishing pad conditioning for wafer planarization.
  6. Kimura Norio,JPX ; Kikuta Ritsuo,JPX ; Ishii You,JPX ; Hirose Masayoshi,JPX, Polishing apparatus.
  7. Kaanta, Carter W.; Landis, Howard S., Radial uniformity control of semiconductor wafer polishing.

이 특허를 인용한 특허 (19)

  1. Cron, Brian E., Apparatuses for conditioning surfaces of polishing pads.
  2. Tietz,James V.; Li,Shijian; Birang,Manoocher; White,John M.; Rosenberg, legal representative,Sandra L.; Scales,Marty; Emami,Ramin; Rosenberg, deceased,Lawrence M., Article for polishing semiconductor substrates.
  3. Crevasse, Annette Margaret; Easter, William Graham; Maze, III, John Albert; Miceli, Frank, Chemical mechanical polisher including a pad conditioner and a method of manufacturing an integrated circuit using the chemical mechanical polisher.
  4. Osterheld, Thomas H., Grid relief in CMP polishing pad to accurately measure pad wear, pad profile and pad wear profile.
  5. Paul A. Manfredi, High pressure cleaning.
  6. Inoue, Tatsuo; Komatsu, Mitsunori, Method and apparatus for cleaning polishing surface of polisher.
  7. Yu-Liang Lin TW, Method for recycling a polishing pad conditioning disk.
  8. Moore, Scott E.; Doan, Trung Tri, Method of cleaning a substrate surface using a frozen material.
  9. Cron,Brian E., Methods for conditioning surfaces of polishing pads after chemical-mechanical polishing.
  10. Cron,Brian E., Methods for conditioning surfaces of polishing pads after chemical-mechanical polishing.
  11. Moore, Scott E.; Doan, Trung Tri, Methods of treating surfaces of substrates.
  12. Moore, Scott E.; Doan, Trung Tri, Methods of treating surfaces of substrates.
  13. Moore, Scott E.; Doan, Trung Tri, Methods of treating surfaces of substrates.
  14. Moore,Scott E.; Doan,Trung Tri, Methods of treating surfaces of substrates.
  15. Shaw, James Stephen, Pliant coating stripping.
  16. Arun Vishwanathan ; David L. Shidner, Polymeric polishing pad having improved surface layer and method of making same.
  17. Prabhu Golpalakrishna B., Preconditioning polishing pads for chemical-mechanical polishing.
  18. Takano, Masamune, Processing apparatus, nozzle, and dicing apparatus.
  19. Shaw, James S., Shifting edge scrubbing.
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