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Method and device for controlled illumination of an object for improving identification of an object feature in an image of the object 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G03B-027/54
  • G01B-011/00
  • H04N-007/18
출원번호 US-0069283 (1998-04-29)
우선권정보 DE-0044454 (1997-10-08)
발명자 / 주소
  • Haas Gerhard,DEX
출원인 / 주소
  • Siemens Aktiengesellschaft, DEX
대리인 / 주소
    Hill & Simpson
인용정보 피인용 횟수 : 20  인용 특허 : 9

초록

In a method and apparatus wherein components and/or markings applied to substrates are illuminated with illumination devices and imaged via a camera, adequate contrast between useful and unwanted structures is achieved even in the case of highly disparate optical properties of different materials fo

대표청구항

[ I claim as my invention:] [6.] An apparatus for optimally illuminating a group of objects having substantially identical object features, comprising:a camera having a field of view;means for placing a first object of a group of objects in said field of view of said camera, said camera obtaining an

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Sepai Dinyar (Framingham MA) Daly Kevin R. (Stow MA) Whalen Brian L. (Grafton MA) Hong Khanh (Ashland MA) Jones George B. (Stow MA), Apparatus and method for inspection of high component density printed circuit board.
  2. Sugawara Kenji (Tokyo JPX), Bonding wire inspection apparatus.
  3. Sugawara Kenji (Tokyo JPX), Bonding wire inspection apparatus.
  4. Sugawara Kenji (Tokyo JPX), Bonding wire inspection apparatus.
  5. Sugawara Kenji (Tokyo JPX), Bonding wire inspection apparatus and method.
  6. Garriss Gregory M. (Federal Way WA), High frequency, low power light source for video camera.
  7. Wilt Donald R. (Lexington MA) Sidell Richard S. (Needham MA), Illumination system for OCR of indicia on a substrate.
  8. Tanaka Yoshiharu (Tokyo JPX), Method and apparatus inspecting bonding-wire status using a plurality of light sources.
  9. King Steven Joseph ; Ludlow Jonathan Edmund ; Chouinard Jon ; Schurr George, Ring illumination apparatus for illuminating reflective elements on a generally planar surface.

이 특허를 인용한 특허 (20)

  1. Ishiba,Masato; Kuriyama,Jun; Murakami,Kiyoshi; Yotsuya,Teruhisa, Apparatus for surface inspection and method and apparatus for inspecting substrate.
  2. Cole, Barrett E.; Marta, Terry, Beam intensity detection in a cavity ring down sensor.
  3. Cole, Barrett E., CRDS mirror for normal incidence fiber optic coupling.
  4. Cole, Barrett E., Cavity enhanced photo acoustic gas sensor.
  5. Cox, James Allen; Cole, Barrett E., Compact gas sensor using high reflectance terahertz mirror and related system and method.
  6. Onoyama,Ayumu; Sakurai,Koichi; Oka,Kazuhiro; Ishii,Hiroyuki; Fujiyoshi,Katsuhiro, Defect inspection method and defect inspection equipment.
  7. Fritz, Bernard, Enhanced cavity for a photoacoustic gas sensor.
  8. Watanabe, Norio, Fabrication method of semiconductor integrated circuit device.
  9. Watanabe, Norio, Fabrication method of semiconductor integrated circuit device.
  10. Cox, James Allen; Higashi, Robert, High reflectance terahertz mirror and related method.
  11. Satomi, Takeshi, Illumination apparatus.
  12. Okada, Yasuichi; Yamasaki, Kimiyuki; Kihara, Masahiro, Image recognition apparatus and method for surface discrimination using reflected light.
  13. Fujimoto,Naoyuki; Sugiura,Takayuki; Chinzei,Kiyoshi; Nakano,Mieko; Miki,Atsushi; Kimura,Shuji; Gotoh,Mitsuhiro; Fukui,Satoshi; Endoh,Toshio; Aoki,Takahiro; Fukuda,Mitsuaki; Watanabe,Masaki; Sasaki,Shigeru, Image taking device, method for controlling light sources and computer program.
  14. Fukuda,Shozo; Kanetaka,Iwao; Noudo,Akira; Hachiya,Eiichi, Method and apparatus for component recognition.
  15. Zorn, Jürgen; Kieslinger, Dietmar, Method for accurate population of a circuit carrier.
  16. Cole,Barrett E.; Higashi,Robert E.; Zins,Christopher J.; Krishnankutty,Subash, Multi-substrate package assembly.
  17. Cole, Barrett E.; Marta, Terry; Cox, James Allen; Nusseibeh, Fouad, Multiple wavelength cavity ring down gas sensor.
  18. Cole, Barrett E.; Cox, James A.; Zook, J. David, Optical cavity system having an orthogonal input.
  19. Karch, Andreas, Placement method for circuit carrier and circuit carrier.
  20. Fujii, Yoshiki; Murakami, Kiyoshi, Surface state inspecting method and substrate inspecting apparatus.
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