$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Apparatus and method for detecting contaminants on the surface of a card 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-005/28
  • B41F-033/00
출원번호 US-0922686 (1997-09-02)
발명자 / 주소
  • Pearson Gary L.
  • Wurdell Grant
  • Courteau Timothy P.
출원인 / 주소
  • DataCard Corporation
대리인 / 주소
    Merchant & Gould P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 11

초록

An apparatus and method for detecting potentially damaging contaminants on the surfaces of a plastic card, such as a credit card, an identification card, and the like, prior to a thermal printing operation being performed on the card. The apparatus includes a roller assembly including a first, drive

대표청구항

[ What is claimed:] [1.] An apparatus for detecting contaminants on side surfaces of a generally planar card as the card travels through the apparatus, comprising:a roller assembly including a first, driven, rotatable roller and a second, floating, rotatable roller parallel to the first roller, the

이 특허에 인용된 특허 (11)

  1. Kurihara Hideo (Tokyo JPX) Kurihara Hitoshi (Saitama JPX), Apparatus for transporting card-like information recording medium.
  2. Lorber Harold (3225 Burn Brae Dr. Dresher PA 19025) Lorber Ronald B. (3225 Burn Brae Dr. Dresher PA 19025) Loeb Lee H. (22 Woodlyn Ave. Norristown PA 19403) Loeb Jeffrey C. (22 Woodlyn Ave. Norristow, Automatic shuffling apparatus.
  3. Eyler Stanley H. (Simi Valley CA), Dual purpose cleaning card.
  4. Angove Richard D. (200 Rockwell Ames IA 50010), Highway profile measuring device.
  5. Allen Roger A. (Great Missenden GBX) Youd Geoffrey (High Wycombe GBX), Method and apparatus for determining the propensity of a paper or board to dust.
  6. Engel Jean (Bissen LUX), Method and apparatus for sidewall bulge and valley detection.
  7. Pai Deepak K. (Burnsville MN) Maday Gene A. (Spring Lake Park MN), Method and apparatus to evaluate effectiveness of cleaning systems for high density electronics.
  8. Darves-Bornoz Yves (LaGrangeville NY) Melvin George E. (Poughkeepsie NY) Ryan Michael G. (Poughkeepsie NY) Saylor Dennis L. (LaGrangeville NY), Particle detection system.
  9. Porter John P. (Cuyahoga Falls OH), Surface irregularity analyzer.
  10. Graves J. Robert (Chillicothe OH), Surface profile recorder.
  11. Nilan ; Thomas G. ; Rudolph ; Ralph G., Surface roughness analyzer.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로