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Surface treatment for bonding pad 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-021/00
  • C23F-001/00
출원번호 US-0241525 (1999-02-01)
우선권정보 TW-0119709 (1998-11-27)
발명자 / 주소
  • Yu Chia-Chieh,TWX
  • Chou Ta-Cheng,TWX
출원인 / 주소
  • United Semiconductor Corp., TWX
대리인 / 주소
    Huang
인용정보 피인용 횟수 : 21  인용 특허 : 9

초록

A surface treatment method for bonding pad is described, in which a passivation layer is formed on a bonding pad and an opening is formed within the passivation by a plasma etching process. The bonding pad is corroded by the etching plasma containing fluorine during the etching process. The bonding

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A method for treating a bonding pad, compromising:providing a substrate having the bonding pad formed thereon, the bonding pad comprising aluminum (Al);forming a passivation layer on the bonding pad and the substrate;using an etchant containing fluorine (F) to etch the pa

이 특허에 인용된 특허 (9)

  1. Bowers Charles W., Integrated circuit chip module cleaning using a carbon dioxide jet spray.
  2. Park Yong,KRX ; Lee Soo-Cheol,KRX, Integrated circuits having metallic fuse links.
  3. Aoki Hidemitsu (Tokyo JPX) Nakamori Masaharu (Tokyo JPX) Yamanaka Koji (Saitama JPX) Imaoka Takashi (Saitama JPX) Futatsuki Takashi (Saitama JPX) Yamashita Yukinari (Saitama JPX), Method and apparatus for cleaning electronic parts.
  4. Jou Chon-Shin,TWX ; Wang Ting-Sing,TWX ; Chen Chun-Lin,TWX ; Tsai Ming-Huan,TWX ; Tsai Ming-Ru,TWX, Method for forming low contact resistance bonding pad.
  5. Molloy Simon John ; Vitkavage Daniel Joseph, Method for removing etching residues and contaminants.
  6. Cain John L. (Schertz TX) Vines Landon B. (San Antonio TX) Koenigseder Sigmund (San Antonio TX) Lee Chang-Ou (San Antonio TX) Fujishiro Felix (San Antonio TX), Method of using corrosion prohibiters in aluminum alloy films.
  7. Chung Bryan C. (Hampton NJ) DiBello Gerald N. (Boyertown PA) Pearce Charles W. (Emmaus PA) Yanders Kevin P. (Allentown PA), Semiconductor wafer cleaning and rinsing techniques using re-ionized water and tank overflow.
  8. Fukazawa Yuji (Yokohama JPX), Semiconductor wafer treating method.
  9. Figueredo Domingo A. ; Thomas David R. ; Buonanno Mark A., Thin-film printhead device for an ink-jet printer.

이 특허를 인용한 특허 (21)

  1. Nesbitt, Bruce, Anti-microbial electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  2. Nesbitt,Bruce, Anti-microbial electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  3. Nesbitt,Bruce, Anti-microbial electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  4. Nesbitt,Bruce, Anti-microbial electrosurgical electrode and method of manufacturing the same.
  5. Nesbitt,Bruce, Coating reinforcing underlayment and method of manufacturing same.
  6. Nesbitt, Bruce, Electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  7. Nesbitt, Bruce, Electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  8. Nesbitt, Bruce, Electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  9. Nesbitt, Bruce, Electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  10. Nesbitt,Bruce, Electrosurgical electrode and method of manufacturing same.
  11. Oura, Takehiro, Manufacturing method of semiconductor device.
  12. Oura, Takehiro, Manufacturing method of semiconductor device.
  13. Lan Chao-Yi,TWX ; Horng Shean-Ren,TWX ; Fan Yang-Tung,TWX ; Chiu Chih-Kang,TWX, Method for adding plasma treatment on bond pad to prevent bond pad staining problems.
  14. Chang, Chih-Kung; Hsiao, Yu-Kung; Pan, Sheng-Liang; Wong, Fu-Tien; Kuo, Chin-Chen; Hsiung, Chung-Sheng; Hsu, Hung-Jen; Dai, Yi-Ming; Lin, Po-Wen; Tseng, Te-Fu, Method for fabricating microelectronic product with attenuated bond pad corrosion.
  15. Nesbitt, Bruce, Method of forming a coating on a surface of a substrate.
  16. Nesbitt, Bruce, Method of forming a coating on a surface of a substrate.
  17. Nesbitt, Bruce, Method of forming a coating on a surface of a substrate.
  18. Yu, Wan-Ling, Method of forming metallic bump and seal for semiconductor device.
  19. Fu,Wen Jui; Shen,Shang Ru; Shen,Yun Hung; Chen,Chao Cheng, Method to reduce the fluorine contamination on the Al/Al-Cu pad by a post high cathod temperature plasma treatment.
  20. Sun, Jennifer Y.; Xu, Li; Thach, Senh; McDonough, Kelly A.; Clark, Robert Scott, Self-passivating plasma resistant material for joining chamber components.
  21. Letourneau, Donald R.; Spinney, Patrick S.; Bagley, Leah J.; Sutton, John M., Wiring bond pad structures.
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