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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0241525 (1999-02-01) |
우선권정보 | TW-0119709 (1998-11-27) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 21 인용 특허 : 9 |
A surface treatment method for bonding pad is described, in which a passivation layer is formed on a bonding pad and an opening is formed within the passivation by a plasma etching process. The bonding pad is corroded by the etching plasma containing fluorine during the etching process. The bonding
[ What is claimed is:] [1.] A method for treating a bonding pad, compromising:providing a substrate having the bonding pad formed thereon, the bonding pad comprising aluminum (Al);forming a passivation layer on the bonding pad and the substrate;using an etchant containing fluorine (F) to etch the pa
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