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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0960014 (1997-10-29) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 29 인용 특허 : 3 |
A parallel processing pattern generation system for an integrated circuit tester includes two pattern memories, a main pattern generator, and two auxiliary pattern generators. Each pattern memory may receive and store data patterns from a host computer before the test. All three pattern generators m
[ What is claimed is:] [1.] A parallel processing pattern generation system comprising:a first pattern generator for storing and executing a first algorithm for generating first pattern data and first routing control data;a second pattern generator for generating second pattern data by executing a s
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