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[미국특허] Method of making polishing pads 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B29C-043/20
  • B29C-043/52
출원번호 US-0814514 (1997-03-10)
발명자 / 주소
  • Cook Lee Melbourne
  • James David B.
  • Jenkins Charles William
  • Reinhardt Heinz F.
  • Roberts John V. H.
  • Pillai Raj Raghav
출원인 / 주소
  • Rodel Holdings, Inc.
대리인 / 주소
    Kaeding
인용정보 피인용 횟수 : 18  인용 특허 : 5

초록

A polishing pad having a substantially uniform, continuously interconnected porous surface. The pad can be produced by pressure sintering powder compacts of thermoplastic polymer at a temperature above the glass transition temperature but not exceeding the melting point of the polymer. The sintering

대표청구항

[ What is claimed is:] [1.] A method for producing a pad for polishing semiconductor wafers or integrated circuits at a polishing rate not in excess of 1 micron per minute, comprising:a) providing a powder comprising particles of a thermoplastic polymeric material having an average diameter in the r

이 특허에 인용된 특허 (5) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Stein Harvey L. (Seabrook TX), Composition and process for making porous articles from ultra high molecular weight polyethylene.
  2. Breivogel Joseph R. (Aloha OR) Blanchard Loren R. (Hillsboro OR) Prince Matthew J. (Portland OR), Polishing pad conditioning apparatus for wafer planarization process.
  3. Morris Harold B. (Newnan GA) Bright Donald G. (College Park GA), Porous sheets and method of manufacture.
  4. Koslow Evan E. (Westport CT), Process for the production of materials characterized by a continuous web matrix or force point bonding.
  5. Degen Peter J. (Huntington NY) Gsell Thomas C. (Glen Cove NY), Self-supporting structures containing immobilized carbon particles and method for forming same.

이 특허를 인용한 특허 (18) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Prasad,Abaneshwar, Low surface energy CMP pad.
  2. Tolles, Robert D., Material for use in carrier and polishing pads.
  3. Jones, Jeremy; Sevilla, Roland K., Method for manufacturing a polishing pad having a compressed translucent region.
  4. Shen James ; Costas Wesley D., Method of polishing.
  5. Hideki Isono JP; Hiroshi Takeda JP; Hisao Kawai JP, Method of producing a substrate for an information recording medium and method of producing an information recording medium.
  6. Bunyan,Michael H.; Clement,Thomas A.; Hannafin,John J.; LaRosee,Marc E.; Young,Kent M., Polishing article for electro-chemical mechanical polishing.
  7. Allison,William C.; Swisher,Robert G.; Wang,Alan E., Polishing pad.
  8. Obeng, Yaw S.; Yokley, Edward M.; Richardson, Kathleen C., Polishing pad composition and method of use.
  9. Prasad,Abaneshwar, Polishing pad comprising hydrophobic region and endpoint detection port.
  10. Pinheiro, Barry Scott; Naugler, Steven; Kulp, Mary Jo, Polishing pad having an advantageous micro-texture and methods relating thereto.
  11. Obeng, Yaw S., Polishing pad resistant to delamination.
  12. Cook Lee Melbourne ; James David B. ; Jenkins Charles William ; Reinhardt Heinz F. ; Roberts John V. H. ; Pillai Raj Raghav, Polishing pads and methods relating thereto.
  13. Swisher,Robert G.; Wang,Alan E.; Allison,William C., Polyurethane urea polishing pad.
  14. Tolles, Robert D., Substrate polishing apparatus.
  15. Tolles, Robert D., Substrate polishing article.
  16. Tolles, Robert D., Substrate polishing article.
  17. Yokley, Edward M.; Obeng, Yaw S., Substrate polishing device and method.
  18. Obeng, Yaw S.; Yokley, Edward M., Thermal management with filled polymeric polishing pads and applications therefor.

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