[특허]Semiconductor integrated circuit and test method therefor

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IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01R-015/12
출원번호	US-0038373 (1998-03-11)
우선권정보	JP-0057931 (1997-03-12)
발명자 / 주소	Oowaki Yukihito,JPX Sekine Masatoshi,JPX Fujii Hiroshige,JPX
출원인 / 주소	Kabushiki Kaisha Toshiba, JPX
대리인 / 주소	Oblon, Spivak, McClelland, Maier & Neustadt, P.C.
인용정보	피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 11

초록 ▼

A reconfigurable circuit is reconstructed to three or more operating circuit blocks. Upon testing, the same data is inputted to each of the reconstructed operating circuit blocks. A majority circuit formed in the reconfigurable circuit compares results of operations of the operating circuit blocks a

대표청구항 ▼

[ What is claimed is:] [1.] A semiconductor integrated circuit containing a reconfigurable circuit wherein a circuit structure thereof can be changed according to an external signal input thereto, said reconfigurable circuit being reconfigured to include three or more equivalent operating circuit bl

이 특허에 인용된 특허 (11)

Hsia Yukun (Santa Ana CA), Associative interconnection circuit.
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Franke ; Robert H., Asynchronous digital circuit testing system.
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Busack Jon P. (Boise ID) Johnson Gary M. (Boise ID) Clem Richard R. (Boise ID), Badbit counter for memory testing.
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Gillenwater Russell L. (Round Rock TX) Safari Davoud (Round Rock TX) Owens Gary D. (Austin TX), Cell architecture for built-in self-test of application specific integrated circuits.
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Fasang Patrick P. (Mount Laurel NJ), Device for testing digital circuits using built-in logic block observers (BILBO\s).
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Abramovici Miron ; Saab Daniel, Digital circuit test generator.
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Hirosawa Makoto (Kyoto JPX) Aragaki Masami (Kyoto JPX), Gradation converting circuit employing lookup table.
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Tanabe Takashi (Kanagawa JPX) Kamemaru Toshihisa (Kanagawa JPX) Katoh Mamoru (Kanagawa JPX) Ohno Tsugihiko (Kanagawa JPX) Hatashita Toyohito (Kanagawa JPX) Abe Kaoru (Kanagawa JPX), Majority circuit, a controller and a majority LSI.
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Bass David S. (Floral Park NY), Pseudorandom number generator.
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Rupp Charle R., Reconfigurable computer architecture for use in signal processing applications.
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Hutchins Charles L. (Sugar Land TX), Reconfigurable integrated circuit for enhanced testing in a manufacturing environment.
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이 특허를 인용한 특허 (4)

Nishio, Shigeru; Naka, Naoaki, Semiconductor integrated circuit.
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Ho Wai Wong-Lam ; Mark Douglas Naley, System and method for computer controlled interaction with integrated circuits.
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Dean,Alvar A.; Ventrone,Sebastian T., Test system for integrated circuits.
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Dean,Alvar A.; Ventrone,Sebastian T., Test system for integrated circuits.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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